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膜厚测试仪(BA100)(图)

  • 相关产品:镀层膜厚测试仪,X-RAY膜厚测试仪,PCB镀金膜厚测试仪
  • 更新时间:2013年12月06日
企业基本资料
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采购单描述

BOWMAN(博曼) X射线萤光测厚仪,是结合了测量镀层厚度及物料分析双功能在一

整体的设计,此仪器是采用能量散射X-射线萤光测量原理,符合国际标准来进行非破

坏及不接触的测量。除了可以测量镀层厚度外,还可以计算合金中各种元素的含量。

至于需要测量电镀槽内的金离子停含量的浓度也是十分简单。BOWMAN X-射线萤光测

厚仪具备手动的测量台,可移动的范围是50MM*50MM,不需要打开测量门便可以移动不

同测量,更方便操作。测试方向由下向上照射的设计是只需要对准量位置,而不需要

调校焦距便可以进行测量,并且由下向上的照射,操作员只需将测试面朝下,不论大

小的样品可直接放进测量室内,不用调距离,只需对准位置,便可立即测量,这不单

可以令测量更快速,还可以避免因在调校测量距离错误时影响计算厚度。BOWMAN X-

射线萤光测厚仪是根据FR计算方法进行设计的,WINFTM的控制软件,已成为多功能及

准确度高的样板极适合对一些较小的样板进行测量,尤其是对PCB线路板,手表、端子

、小螺丝、螺丝帽、一些电气产品中的小五金零件等等,。期待您的来电,深圳市金

东霖科技有限公司 周小姐 手机:13602562447 TEL:0755-29371651 FAX:

29371653 公司网址:www.kinglinhk.net 地址:深圳宝安区沙井北环大道新桥

综合大楼502

主要特点:测试薄金稳定性会更高
PCB镀层膜厚测试仪的应用范围 :1、分析电子部品电镀层的厚度
   2、各类五金电镀件的镀层厚度管控分析
3、各镀层的成分比例分析。
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