HeLeeX E8通用型―能量色散X射线荧光光谱仪HeLeeX E8是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF）；其核心光路系统集合国内外几十年EDXRF尖端技术，美国进口核心部件，独创最先进的软件算法，采用最权威的国际标准样品校正。HeLeeX E8精密度、准确度、检出限等技术参数已全面超越国内外同类仪器；? 应用特点：? 用于电子电气、汽车、塑料、五金、探矿等行业的快速筛选分析，保证产品以及零部件绿色环保? 镀层分析? 合金分析? 皮革分析? 珠宝首饰分析? 应对无卤素测试? 应对欧盟RoHS、 ELV、EN71等法规? 应对中国《电子信息产品污染防治管理办法》即中国版RoHS? 硬件配置：? 技术特点：? 可更换准直/滤光系统，应对各种材质样品分析，避免结构材料干扰；? 全新的滤光片组合可获得高精度的测试数据；? 在非常短的时间内获得更低的检出下限； ? 采用第三方标准样品制作分析模型，符合计量认证的法规； ? 可靠的迷宫式X射线防护设计，通过了华南、华东和华北的环境保护检测机构的严格检测；? 开放式分析模型，用户可自主扩展仪器应用范围；? 全新的软件算法，精确定量分析元素，完全符合IEC制定的3σ的判定标准? 测试数据一键恢复、一键还原。? 性能指标： 编号名称技术指标01精密度（EC-681K）σ（Pb）≤5ppm； σ（Hg）≤5ppm； σ（Br）≤7ppm； σ（Cr）≤6ppm； σ（Cd）≤5ppm；02准确度（EC-681K）σ（Pb）≤7ppm； σ（Hg）≤5ppm； σ（Br）≤5ppm； σ（TCr）≤3ppm；σ（Cd）≤4ppm；03检出限对聚合物材料： LOD（Pb）≤5ppm； LOD（Hg）≤5ppm；LOD（Cr）≤5ppm； LOD（TBr）≤5ppm；LOD（Cd）≤5ppm； 对铜基体材料： LOD（Pb）≤20ppm；04测量时间240秒（软件自动调整）；